1. Özellikleri:

1. Ölçülen parçacıkların ve dağıtılmış ortamların kırılma oranı gibi optik özelliklerini tam olarak göz önünde bulundurmak için tam ölçekli Meister dağılım teorisini kabul edin,

Farklı büyüklükteki parçacıkların her açıda yayılan ışığın gücünün değişimine göre parçacık gruplarının parçacık boyutu dağılımı verilerini tersine çevirir.

2.Sınırsız uyum tersi, yani test öncesinde parçacık grubu hakkında herhangi bir varsayım yapmadan, parçacık grubu boyutu dağılımını doğrudan ışık gücü ile doğrudan hesaplamaktadır.

Bu hesaplama, makul bir detektör tasarımı ve parçacık büyüklüğü sınıflandırılması ve cihazın kendisine yüksek gereksinimler koymak için gereklidir.

Teknik parametreler:

1. Ölçüm aralığı: 0.1 ~ 1200 mikron

Doğruluk hatası: ±% 1 (Ulusal standart madde D50)

Tekrarlanan sapma: ±% 1 (Ulusal Standart Madde D50)

4. Elektrik gereksinimleri: AC 220 ± 10V, 50Hz, 200W

5. Görünüm boyutu: ana 1000 × 330 × 300mm kuru örnekleme sistemi 350 × 330 × 300mm

6. Ağırlık: 40kg